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在不断追求制造完美的过程中，半导体晶圆上的一丝微米级划痕，或电池单元上的一丝细微裂纹，都可能引发灾难性的故障。传统的人工检测，受限于生理限制和主观判断，难以适应当今纳米级的生产公差。而这正是人工智能驱动的视觉检测系统应运而生，成为终极质量守护者——它将光学精度与算法智能相结合，实现了曾经被认为不可能实现的目标。

在当今高速制造环境中，检测移动生产线上亚毫米级的缺陷需要超人般的能力。传统的基于规则的视觉系统在光照、纹理和物体方向的变化下难以应对。深度学习 (DL) 与光学传感的融合带来了范式转变。以下是 AI 驱动的视觉检测和光学分选机如何实现前所未有的准确性和适应性。

微型化和超连接化的持续发展给连接器制造商带来了巨大的压力。在这个高风险的领域，哪怕只是微米级的缺陷都可能导致灾难性的系统故障，连接器光学分选机已成为精度和质量不可或缺的守护者。这台精密的机器不仅仅是一个质量控制工具，更是驱动我们世界的无数电子设备可靠性的基石。

优尼特科在光学分选技术方面取得重大突破，获得两项国家专利。据国家知识产权局信息，这两项专利包括“多功能光学分选工作站”（授权号：CN222402392U）和“具有自动物料对中结构的光学图像分选机”（授权号：CN222402365U），分别于2024年4月和5月提交。

​在精准和创新的时代，光学分选机是技术进步的灯塔。这些机器利用尖端光学技术，重新定义了各行业的准确性和生产力标准。这些设备将复杂的算法与时尚紧凑的设计无缝集成，是设计艺术与科学的结合。

当产品移动到 CCD 传感器下方时，索引平台会停止，并触发信号，让 CCD 捕捉图像进行比较。CCD 处理数据，确定产品是否符合质量标准。如果产品通过，CCD 会向索引平台发送另一个信号，使其进入下一个工作站进行另一次图像分析。这个连续循环重复进行，直到所有产品都经过检查，然后被排放到框架中。