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人工智能视觉检测：机器如何重新定义零缺陷制造

在不断追求制造完美的过程中，半导体晶圆上的一丝微米级划痕，或电池单元上的一丝细微裂纹，都可能引发灾难性的故障。传统的人工检测，受限于生理限制和主观判断，难以适应当今纳米级的生产公差。而这正是人工智能驱动的视觉检测系统应运而生，成为终极质量守护者——它将光学精度与算法智能相结合，实现了曾经被认为不可能实现的目标。

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Unitecho 获得两项专利，推动光学分选技术创新

优尼特科在光学分选技术方面取得重大突破，获得两项国家专利。据国家知识产权局信息，这两项专利包括“多功能光学分选工作站”（授权号：CN222402392U）和“具有自动物料对中结构的光学图像分选机”（授权号：CN222402365U），分别于2024年4月和5月提交。

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